Microelectronics Engineering Group

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 Electronics Technology, Systems and Automation Engineering Department University of Cantabria
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 Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
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Title:Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
Acronym: 
Payer:CICYT 
Partners:GIM/UC 
Budget:€ Years, begin:1996  end:1999 
Director:Salvador Bracho 
R&D Lines: Test methods of digital and mixed integrated circuits
Staff: Miguel Angel Allende
Salvador Bracho
Rosario Casanueva
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Román Mozuelos
Description:Se consiguieron resultados en la generación de test determinista en BIST de circuitos digitales y en el diseño de nuevos sensores dinámicos de la intensidad de alimentación en circuitos analógicos y mixtos.  
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