Web Map
Location
News
Santander Info
|
| GIM>Research>project>Test Integrado de Co... |
| PROJECT: |
| | Test Integrado de Convertidores de Señal de Alta Velocidad de Funcionamiento (Picasso) |
| Select this link to see PUBLICATIONS within this project |
| |
| Title: | Test Integrado de Convertidores de Señal de Alta Velocidad de Funcionamiento (Picasso) |
| Acronym: | |
| Payer: | MEC |
| Partners: | TIMA (Grenoble) |
| Budget: | 11000€ |
Years, begin: | 2006 |
end: | 2008 |
| Director: | Salvador Bracho |
| R&D Lines: |
|
| Staff: |
Salvador Bracho
Mar Martínez
Miguel Angel Allende
Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
|
| Description: | En esta Acción Integrada nos centrarnos en el estudio del convertidor analógico-digital “folded” o doblado, cuya metodología de conversión es muy similar a la del convertidor de alta velocidad por excelencia, el flash, pero que se divide en dos etapas de conversión simultáneas: una gruesa con la que se obtienen los bits más significativos, y otra fina con un preprocesado analógico de doblado de la señal de entrada, que posibilita el emplear cada comparador más de una vez. De este modo se consigue disminuir significativamente el número de comparadores necesarios para la conversión, lo que implica menor área y menor consumo, pero manteniendo una alta velocidad de muestreo.
El motivo fundamental por el cual se ha elegido este tipo de convertidor radica en que son pocas las propuestas de test integrado que se han desarrollado en los últimos años sobre un circuito que resulta muy adecuado para determinadas aplicaciones en la que se precisa una muy alta velocidad de muestreo, con una resolución limitada. En estos casos el convertidor “folded” sería una alternativa viable, ya empleada, al convertidor flash que, como se ha mencionado anteriormente, se ve fuertemente limitado por su alto coste en términos de área y consumo. Sin embargo, y a pesar de que son muchas las referencias que podemos encontrar en la literatura especializada en lo referente a su diseño, son muy escasas las que proponen soluciones de test específico. |
|
|
