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Santander Info
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| GIM>Research>Publication |
| PUBLICATION |
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| Full record |
| Title: | Test de Preamplificadores en Convertidores A/D Doblados |
| Type: | National Conference |
| Where: | Proc. of the XII Annual Seminar on Automatic Control, Industrial Electronics and Instrumentation (SAAEI 2005), Santander |
| Date: | 2005-09 |
| Authors: |
Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
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| R&D Lines: |
Test methods of digital and mixed integrated circuits
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| Projects: |
Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
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| ISBN: | 84-8102-964-5 |
| PDF File: |
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| Abstract: | Este trabajo presenta una metodología de test para convertidores analógico-digitales de alta velocidad de tipo flash y doblado, se basa en el análisis de los bloques básicos lineales del circuito como son los preamplificadores y buffers. El método de test propuesto muestrea las tensiones de salida de varios módulos del ADC simultáneamente para detectar cualquier desviación relativa entre ellas cuando se inyecta un fallo.
Para evaluar la eficiencia del método de test se ha llevado a cabo una simulación de fallos, considerando un modelo que incluye fallos catastróficos y paramétricos a nivel de transistor. |
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