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| GIM>investigación>proyecto>Métodos de test para... |
| PROYECTO: |
| | Métodos de test para Convertidores ADC de Alta Velocidad |
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| Título: | Métodos de test para Convertidores ADC de Alta Velocidad |
| Acrónimo: | |
| Financia: | CICYT |
| Socios: | |
| Presupuesto: | 0€ |
Año comienzo: | 2006 |
final: | 2007 |
| Director: | Salvador Bracho |
| Temas: |
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| Personas: |
Salvador Bracho
Mar Martínez
Miguel Angel Allende
Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
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| Descripción: | Los convertidores ADC flash y doblados son una buena solución para realizar una conversión analógico digital de alta velocidad. Actualmente se están realizando numerosos trabajos sobre estos convertidores para aumentar su resolución, al tiempo que se mejoran el resto de sus prestaciones.
La realización del test de estos convertidores analógico-digitales necesita métodos cada vez más eficaces, entre los que destacan la incorporación de técnicas de diseño DfT y BIST, donde según la memoria 2005 del ITRS. Es necesario realizar una mayor investigación sobre técnicas DfT con objeto de conseguir la eficiencia adecuada para que dichas técnicas sean aplicables a procesos de test de post_fabricación.
En este proyecto se plantea, durante un año, estudiar a nivel de comportamiento, el impacto de las posibles estructuras de test utilizadas para obtener un diseño testable, DfT ó BIST, en distintas arquitecturas de convertidores analógico digitales de alta velocidad.
Para ello debemos estudiar las estructuras de diseño testable y BIST en profundidad, para obtener el máximo rendimiento de las mismas en el proceso de test, y a continuación nos proponemos desarrollar una aproximación DfT para realizar un test estructural de los convertidores A/D doblados.
Finalmente, en una de las etapas iniciales al diseño de estos convertidores testables abordaremos la simulación de los bloque más críticos, así como su comportamiento ante la incorporación de las estructuras de test.
De esta forma vamos a obtener, desde el punto de vista de disponer de los demostradores adecuados para realizar el test, una información que sea válida para los diseñadores de los convertidores, donde se van a destacar las ventajas en términos de test, frente a los problemas de prestaciones, dificultad de diseño, potencia, etc.
Este es un proyecto por un año, en un futuro proyecto, se puede abordar el diseño y la realización de convertidores analógico/digitales doblados con una alta velocidad de conversión, que sean buenos demostradores y estén dentro del estado del arte de las tecnologías válidas para estos circuitos, que serán los convertidores ADC necesarios para validar los métodos de test propuestos.
Así se podrán tomar decisiones conjuntas entre el grupo de Ingeniería Microelectrónica de la Universidad de Cantabria (GIM/UC) y el Centro Nacional de Microelectrónica, Instituto de Sevilla (CNM/IMSE), sobre cuales van a ser las arquitecturas de convertidores ADC de alta velocidad a realizar en las aplicaciones en las que actualmente está mas interesado el IMSE y donde a su vez sean efectivas la aplicación de técnicas DfT o BIST |
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