Mapa Web
Localización
Noticias
Info Santander
Gestión BD
|
| GIM>investigación>proyecto>Métodos de Test Func... |
| PROYECTO: |
| | Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Circuitos Mixtos de Alta Velocidad |
| Seguir este link para ver las PUBLICACIONES dentro de este proyecto |
| |
| Título: | Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Circuitos Mixtos de Alta Velocidad |
| Acrónimo: | |
| Financia: | Cicyt |
| Socios: | |
| Presupuesto: | 90508€ |
Año comienzo: | 2007 |
final: | 2009 |
| Director: | Salvador Bracho |
| Temas: |
|
| Personas: |
Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Miguel Angel Allende
Mar Martínez
Salvador Bracho
|
| Descripción: | El diseño y fabricación de circuitos mixtos analógico-digitales requiere métodos de test de post_ producción cada vez más eficaces, entre los que destacan la incorporación de técnicas de diseño que incorporen DfT y BIST.
Según la última memoria publicada del ITRS de 2005, es necesario realizar una mayor investigación sobre técnicas DfT, con objeto de conseguir la eficiencia adecuada para que estas técnicas sean aplicables a dichos procesos del test de post_ fabricación.
Las aplicaciones crecientes de los circuitos mixtos, y dentro de ellos de los circuitos de conversión analógico-digital, han hecho aparecer especificaciones cada vez más exigentes sobre todo en lo que se refiere a altas velocidades de conversión, tanto en los sistemas de comunicación como en el uso cada día más frecuente de microsistemas con sensores.
En este proyecto planteamos estudiar la aplicación de los métodos de test más frecuentemente utilizados en los convertidores analógico-digitales de alta velocidad embebidos en los sistemas en el chip (SoC), que son de tipo funcional, al tiempo que proponemos incorporar métodos de test de tipo estructural. Estas incluyen propuestas de diseño testable, DfT ó BIST, aplicables a las distintas arquitecturas de convertidores analógico digitales de alta velocidad, que mejoren la propuesta global del test de estos convertidores.
Para ello debemos estudiar tanto los métodos de test como las estructuras de diseño testable y BIST en profundidad, para obtener el máximo rendimiento de las mismas en el proceso de test, y a continuación desarrollar una aproximación DfT para incorporar el test estructural de los convertidores A/D de alta velocidad junto a los métodos de test funcional que se emplean actualmente.
Los convertidores ADC flash y doblados son una buena solución para realizar una conversión analógico digital de alta velocidad. Actualmente se están realizando numerosos trabajos sobre estos convertidores para aumentar su resolución, al tiempo que se mejoran el resto de sus prestaciones. El añadir estructuras de diseño testable y autotest es un reto, que en caso de éxito, puede mejorar la eficacia en la fabricación y el uso de estos circuitos mixtos.
Incluimos en este proyecto el diseño de los demostradores necesarios para verificar los métodos de test propuestos, donde se van a destacar las ventajas en términos de test de un empleo híbrido del test funcional y estructural, manteniendo las prestaciones de este tipo de circuitos.
En resumen en este proyecto, se aborda el diseño y test de convertidores analógico/digitales doblados con alta velocidad de conversión, capaces de incluir estructuras de auto_test, mantenido sus prestaciones, con especial énfasis en la velocidad de conversión.
|
|
|
