Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   Ficha completa
Título:Síntesis de alto nivel para scan parcial
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas nacionales
Lugar:Actas del Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas. Zaragoza
Fecha:1995-11
Autores: Víctor Fernández
Pablo Pedro Sánchez
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:84-600-9269-0
Fichero:
Resumen:
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