Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test basado en Iddt de un convertidor digital-analógico
Tipo:Comunicaciones a congresos nacionales
Lugar:Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas (DCIS95). Zaragoza
Fecha:1995-11
Autores: Román Mozuelos
J. Argüelles
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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