Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Sun 22-Dec-24 . 07:36



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:High Level Synthesis Guided by Testability Measures
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:First International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA (USA)
Fecha:1994-05
Autores: Víctor Fernández
Pablo Pedro Sánchez
Eugenio Villar
Líneas: Diseño y verificación de sistemas embebidos HW/SW
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster