Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Sun 22-Dec-24 . 08:02



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Characterization of an SC ADC by a Built-In Charge Sensor
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:10th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW2004). Portland (USA)
Fecha:2004-06
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:
Fichero:
Resumen:This paper presents a test methodology for switched capacitor circuits (SC). The test approach utilizes a built-in sensor to analyze the charge transfer inside the circuit under test.
The test methodology is applied to a 10-bit algorithmic analog to digital converter (ADC) to characterize the linearity. The goodness of the charge sensor has been experimentally evaluated with an SC integrator.
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster