Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Sun 22-Dec-24 . 07:56



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD
GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Iddt testing of continuos-time filters
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:13th VLSI Test Symposium. Princeton (USA)
Fecha:1995-04
Autores: J. Argüelles
M. J. López
J. Blanco
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster