Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   PUBLICACIONES originadas dentro del proyecto: "Métodos de diseño para test y test..." ordenadas por fecha
 
   2001
Conferencia Internacional R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Built-In Sensor Based on the Time-Variation of the Transient Current Supply in Analogue Circuits"
16th Design of Circuits and Integrated Systems Conference, DCIS 2001. Oporto (Portugal). 2001-11		 Ver ficha completa


   2000
Conferencia Internacional Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Dynamic Current Test of Switched-current Building-blocks"
15th Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS 2000). Montpellier (Francia). 2000-11		 Ver ficha completa
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