Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   Ficha completa
Título:Hard-to-Detect Faults by Dynamic Current Sensor in Analogue Circuits
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:3rd IEEE Latin-American Test Workshop, LATW2002. Montevideo (Uruguay)
Fecha:2002-02
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
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