Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Built-in Dynamic Current Sensor for Hard-to-Detect Faults in Mixed-Signal ICs
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:Design, Automation and Test in Europe, DATE 2002. Paris (France)
Fecha:2002-03
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:0-7695-1471-5
Fichero:
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