Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:SC Algorithmic ADC Test with a Built-In Charge Sensor
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:XVIII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2003). Ciudad Real (Spain)
Fecha:2003-11
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:84-87087-40-X
Fichero:
Resumen:This paper presents a test methodology for switched capacitor circuits (SC). The test approach utilizes a built-in sensor to analyze the charge transfer inside the circuit under test. The test methodology is applied to a 10-bit algorithmic analog to digital converter (ADC). In addition to the fault evaluation performed to verify the goodness of the test methodology, the charge sensor is used to characterize the linearity of the ADC.
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