Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Experimental Analysis of Transient Current Test Based on dIDD Variations in S2I Memory Cells
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2004). Bordeaux (France)
Fecha:2004-11
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Miguel Angel Allende
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:2-9522971-0-X
Fichero:
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