Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:High Level Synthesis with Testability Criteria
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:2nd IEEE Annual Atlantic Test Workshop, Hanover, USA
Fecha:1993-06
Autores: Eugenio Villar
Pablo Pedro Sánchez
Víctor Fernández
Líneas: Diseño y verificación de sistemas embebidos HW/SW
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