Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test of a Switched Capacitor ADC by a Built-In Charge Sensor
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:Microelectronics Journal 36 (12): 1064-1072
Fecha:2005-11
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:0026-2692
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