Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Optimization of a Structural DfT Targeting Fault Detection on High‐Speed ADCs
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:European Test Symposium (ETS'09). Sevilla(E)
Fecha:2009-05
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Ci...
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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