Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Thu 14-Nov-24 . 08:24



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD
GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Structural Test Approach for Embedded Analog Circuits based on a Built-In Current Sensor
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:Journal of Electronic Testing (Springer)
Fecha:2011-04
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Test Integrado de Convertidores de Señal de Alta Velocidad de Funcionamie...
Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Ci...
ISBN:0923-8174
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster