Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Design-for-Test Method for High-Speed ADCs: Behavioral Description and Optimization
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS´11), Cottbus (Germany)
Fecha:2011-04
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas:
Proyectos:
ISBN:978-1-4244-97546
Fichero:
Resumen:
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