Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Behavioral model of folded and interpolated ADCs for test evaluation—Case study: Structural DfT method
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:Microelectronics Journal, Volume 44, Issue 5, May 2013, Pages 382–392
Fecha:2013-05
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Diseño Testable de Sistemas Heterogéneos con Aplicación a Electrónica Méd...
Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Ci...
ISBN:0026-2692
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