Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Thu 14-Nov-24 . 10:28



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD
GIM>Investigación>Publicaciones
   PUBLICACIONES originadas dentro del proyecto: "Métodos de diseño para test y test..." ordenadas por fecha
 
   2001
Conferencia Internacional Román Mozuelos, Mar Martínez, Salvador Bracho
"Built-In Sensor Based on the Time-Variation of the Transient Current Supply in Analogue Circuits"
16th Design of Circuits and Integrated Systems Conference, DCIS 2001. Oporto (Portugal). 2001-11		 Ver ficha completa


   2000
Conferencia Internacional Yolanda Lechuga, Mar Martínez, Salvador Bracho
"Dynamic Current Test of Switched-current Building-blocks"
15th Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS 2000). Montpellier (Francia). 2000-11		 Ver ficha completa
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster