GIM, Publicación, ficha completa

	Grupo de Ingeniería Microelectrónica
Home Personas Investigación Docencia Doctorado Publicaciones Herramientas Bolsa de Empleo			Sun 22-Dec-24 . 08:14

Mapa Web

Noticias

Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación

PUBLICACION

Ficha completa
Título:	Test Limit Evaluation for an ADC Structural Design-for-Test Approach by using a CAT Platform
Tipo:	Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:	Proceedings of the Conference on Design of Circuits and Integrated Systems DCIS 2008, Grenoble (Francia)
Fecha:	2008-11
Autores:	Yolanda Lechuga Ahcène Bounceur Román Mozuelos Mar Martínez Salvador Bracho Salvador Mir
Líneas:	Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:	Test Integrado de Convertidores de Señal de Alta Velocidad de Funcionamie... Métodos de Test Funcionales y Estructurales: Aplicacion al Autotest de Ci... Métodos de test para Convertidores ADC de Alta Velocidad
ISBN:	978-2-84813-1245
Fichero:
Resumen:	This paper presents a Design-for-Test method for folded and interpolated analog-to-digital converters. The test approach samples relative voltage deviations among internal circuit nodes. A fault simulation is used to establish the fault detection threshold of the BIST by using a CAT platform.


© Copyright GIM (TEISA-UC) ¤ Todos los derechos Reservados. ¤ Términos Legales	E-Mail Webmaster